[1] P. Bouça, R. Figueiredo, A. Wlodarkiewicz, A. Tkach, J.N. Matos, P.M. Vilarinho, N. Borges de Carvalho, IEEE Trans.Microw. Theory Tech. 70 (2022) 611-621. [2] T. Jiao, C. You, N. Tian, Duan Z, F.Yan, P. Ren, H. Liu, J. Mater. Sci. Technol. 202 (2024) 174-182. [3] N.K. Pervez, P.J. Hansen, R.A. York, Appl. Phys. Lett. 85 (2004) 4451-4453. [4] P. Gardes, M. Proust, M. Diatta, E. Bouyssou, P. Poveda, J. Appl. Phys. 129 (2021) 214101. [5] T.J. Jiao, C.Y. You, N. Tian, L. Ma, Z.F. Duan, F.X. Yan, P.R. Ren, G.Y. Zhao, J. Eur. Ceram.Soc. 42 (2022) 4926-4933. [6] Y.L. Cheng, S. Liu, K.X. Wei, S.Q. Yan, S.X. Huang, L.W. Deng, J. Electron. Mater. 49 (2020) 650-658. [7] Y. Poplavko, Elsevier, 2021. [8] T. Ostapchuk, J. Petzelt, J. Hlinka, V. Bovtun, P. Kužel, I. Ponomareva, S. Lisenkov, L. Bellaiche, A. Tkach, P. Vilarinho, J. Phys. Condens. Matter 21 (2009) 474215. [9] W. Luo, X. Chen, J. Fan, Y. Hu, Z. Zheng, Q. Fu, Ceram. Int. 42 (2016) 17229-17236. [10] C. Ribeiro, A. Tkach, M.E. Costa, P.M. Vilarinho, J. Eur. Ceram.Soc. 44 (2024) 4985-4991. [11] C. Ribeiro, A. Tkach, F. Zorro, P. Ferreira, M.E. Costa, P.M. Vilarinho, J. Eur. Ceram.Soc. 44 (2024) 116761. |